LED模組和燈具的典型失效模式包含了不同層次的失效模式，涉及到LED封裝結(jié)構(gòu)以及工藝過程（如表1）。LED在實(shí)際使用中，由于復(fù)雜的環(huán)境以及封裝工藝局限性從而使封裝材料退化、熒光粉退化、金屬電遷移、局部溫度過高產(chǎn)生的熱應(yīng)力所引起的芯片和硅膠的分層或金線斷裂等等，從而影響LED發(fā)光甚至導(dǎo)致整個(gè)LED的失效。而且LED產(chǎn)生的高溫會(huì)導(dǎo)致芯片的發(fā)光效率降低，光衰加快、色移等嚴(yán)重后果。

　　表1 LED照明系統(tǒng)中的典型失效模態(tài)

　　由于LED壽命長，通常采取加速環(huán)境試驗(yàn)的方法進(jìn)行可靠性測(cè)試與評(píng)估。加速度測(cè)試將會(huì)模仿燈具的應(yīng)用條件或用戶要求，這樣可以更有效地研究各種破壞機(jī)理，提供大量數(shù)據(jù)去研究LED的結(jié)構(gòu)、材料、工藝從而更好完善LED產(chǎn)品。一些典型的加速可靠性試驗(yàn)（如表2）。

　　表2 應(yīng)用于LED照明系統(tǒng)的典型加速可靠性實(shí)驗(yàn)

以上設(shè)備，請(qǐng)采購東莞市勤卓品牌LED的恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)等測(cè)試設(shè)備。 　　

然而，加速老化試驗(yàn)只是研究問題的一個(gè)方面，對(duì)LED壽命的預(yù)測(cè)機(jī)理和方法的研究仍是有待研究的難題。現(xiàn)在的LED技術(shù)面臨著巨大的挑戰(zhàn)和機(jī)遇。企業(yè)的目標(biāo)主要是保證產(chǎn)品長期的可靠性，例如，根據(jù)產(chǎn)品不同，LED應(yīng)用的范圍壽命從7000小時(shí)到50000～100000小時(shí)不等。這對(duì)于一個(gè)電子企業(yè)是有相當(dāng)挑戰(zhàn)性的，因?yàn)樗麄兊碾娮赢a(chǎn)品現(xiàn)在只有2-3年壽命。對(duì)于50000～100000小時(shí)的SSL系統(tǒng)（包括電源驅(qū)動(dòng)），有必要進(jìn)行可靠性設(shè)計(jì)，以符合產(chǎn)品的高要求。

　　目前，如何通過加速老化試驗(yàn)準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)LED產(chǎn)品的可靠性還是相當(dāng)有挑戰(zhàn)性的。對(duì)于LED產(chǎn)品的長期可靠性，應(yīng)當(dāng)關(guān)注如何建立用加速試驗(yàn)來反映產(chǎn)品中出現(xiàn)的問題。對(duì)于了解和預(yù)測(cè)宏觀系統(tǒng)的可靠性，可測(cè)性非常具有挑戰(zhàn)性，主要是因?yàn)榭煽啃允且粋€(gè)多學(xué)科的問題，并且涉及到材料、設(shè)計(jì)、制造工藝、試驗(yàn)和應(yīng)用條件。因此，有必要開發(fā)LED燈和燈具的加速試驗(yàn)以及戶外照明燈具性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)，從而可以有效地研究關(guān)于LED的各種破壞機(jī)理。

　　據(jù)悉，飛利浦公司目前致力于研究可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，從而深入了解LED以及電源驅(qū)動(dòng)的失效機(jī)理。有理由相信，在不遠(yuǎn)的將來將會(huì)有快速的、可靠的、適合于長壽命的LED照明系統(tǒng)的可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)及標(biāo)準(zhǔn)。（