小型高低溫試驗(yàn)箱電路板元器件

該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用不銹鋼板，箱門(mén)中間設(shè)大面積觀(guān)察窗，并配有觀(guān)察燈，使用戶(hù)可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀(guān)大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。該設(shè)備主要溫度控制儀采用智能數(shù)顯溫濕度控制儀，人性化設(shè)計(jì)的操作方法，易學(xué)易用，并且不同功能檔次的儀表操作相互兼容。輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng)，內(nèi)置常用熱電偶和熱電阻非線(xiàn)性校正表格，測(cè)量精確穩(wěn)定。具備位式調(diào)節(jié)和AI人工智能調(diào)節(jié)功能，0.2級(jí)精度，多種報(bào)警模式。升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管。 
該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

設(shè)備的安全保護(hù)裝置
1.電源超載、短路保護(hù) 
2.接地保護(hù) 
3.超溫保護(hù)
4.壓縮過(guò)壓、過(guò)載保護(hù)
5.為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

設(shè)備的使用現(xiàn)場(chǎng)的條件
1．溫度：15℃~35℃ 
2．相對(duì)濕度：不大于85%RH
3．周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響
4．周?chē)鸁o(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5．無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射
6．周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周?chē)諝庑枰獜?qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7．試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。
8．試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。
9．安裝場(chǎng)地通風(fēng)良好
10．良好接地

小型高低溫試驗(yàn)箱電路板元器件

小型高低溫試驗(yàn)箱電路板元器件

電路板高低溫測(cè)試箱規(guī)格（單位:mm）：（可按客戶(hù)要求定做更大尺寸）
型號(hào) CK-80G  內(nèi)形尺寸:W×H×D 450×500×400   外形尺寸：650×1500×950
型號(hào) CK-150G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500   外形尺寸：750×1600×1050
型號(hào) CK-225G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600   外形尺寸：1000×1650×1200
型號(hào) CK-408G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800   外形尺寸：1100×1750×1400
型號(hào) CK-800G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1500×1900×1400
型號(hào) CK-1000G內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1500×1900×1600

電路板高低溫測(cè)試箱技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、溫度均勻度：≤&plsmn;2℃ (空載時(shí))
3、溫度波動(dòng)度：&plsmn;0.5℃ (空載時(shí))
4、溫度偏差:≤&plsmn;2℃
5、降溫速率：0.7～1.2℃/min
6、升溫速度：1.0～3.0℃/min